在开关电源中，光耦是反馈输出电压的情况给前级控制电路的。如果光耦损坏，可能导致输出电压异常，还有可能会使电路进入过压，或过流保护状态，而无电压输出。如果光耦是用来控制电源的启停，光耦坏了，可能造成电源无法启动或无法停机。如果光耦是用于稳压负反馈，光耦坏了，可能造成输出电压异常、保护性停机、电源损坏等现象。
如果保护电路不齐全的话，一般主开关电路会烧坏，次级滤波电容等都可能烧坏的，它是稳定电源电压的主要器件，很少会损坏的，一般采取替换法，买个新的换上，一边是个二级管，可以量出，另一边是不通的，如果量到有短路情况，肯定是坏了.
开关电源中的光耦损坏,导致电源电路不能稳压,严重的能导电源不工作.

光耦基本原理
在光电耦合器输入端加电信号使发光源发光，光的强度取决于激励电流的大小，此光照射到封装在一起的受光器上后，因光电效应而产生了光电流，由受光器输出端引出，这样就实现了电一光一电的转换。
光耦坏了对电路的影响

在开关电源中，光耦是反馈输出电压的情况给前级控制电路的。如果光耦损坏，可能导致输出电压异常，还有可能会使电路进入过压，或过流保护状态，而无电压输出。 开关电源是利用现代电力电子技术，控制开关管开通和关断的时间比率，维持稳定输出电压的一种电源，开关电源一般由脉冲宽度调制（PWM）控制IC和MOSFET构成。

开关电源中的光耦损坏，导致电源电路不能稳压，严重的能导电源不工作。

随着电力电子技术的发展和创新，使得开关电源技术也在不断地创新。目前，开关电源以小型、轻量和高效率的特点被广泛应用几乎所有的电子设备，是当今电子信息产业飞速发展不可缺少的一种电源方式。
大小，此光照射到封装在一起的受光器上后，因光电效应而产生了光电流，由受光器输出端引出，这样就实现了电一光一电的转换。

光耦的测试
 
光耦也是损坏概率较大的元件，在线测试光耦功能是否正常非常有意义。根据统计，带内部放大器的驱动光耦和模拟量输入的光耦损坏居多。

驱动光耦可以使用指针万用表的电阻挡，一般选取X10Ω挡就可以，可以使用此挡点亮光耦内部的发光二极管，如果光耦输出端无须接电源，则可直接使用数字万用表二极管挡测试输出响应，如果光耦输出需要带电源，则测试时还需给光耦通电。有些电路板开关电源给电后，光耦就会得电，要测试光耦直接给前级驱动电流，万用表再测试响应电压就可以。
 
模拟光耦如A7800、A7840、A7860是常见的容易损坏的元件。A7800、A7840可以自制电路测试，市面上也有专用的测试架售卖。A7800、A7840最方便的测试方法就是不拆下通电，然后测试2，3脚之间电压以及6，7脚之间电压，如果输入电压为0，输出有-20mV，则判断光耦损坏。A7860属于数字量输出的光耦，一般在电路板上成对出现，要对其进行功能测试，需要配合其他芯片编程，测试比较麻烦。比较简易的测试方法是：通电后测试6，7脚对第5脚电压，如果两个A7860电压偏差太多，则必有一个损坏，这种情况干脆两个都换掉。